Yazar "Özçeşmeci, Mukaddes" seçeneğine göre listele

Listeleniyor 1 - 2 / 2
  • Küçük Resim
    Öğe
    Investigation of optical and structural properties of cobalt phthalocyanine doped tio2 films prepared by sol-gel method
    (TUBITAK, 2021) Sarigül, Hasan; Özçeşmeci, Mukaddes; Sorar, İdris
    In this study, TiO2, TiO2/CoPc and CoPc films were prepared on microscope slide substrates using sol-gel spin coating method and the effect of CoPc additive concentration on the optical and structural properties of the films was investigated. A spectrophotometer in the 300-1100 nm wavelength range was used to measure the optical transmittance of thin films. Uv-Vis studies have shown transmittance of films decreases with increasing CoPc concentration in the intervals corresponding to the B and Q band absorption regions. Scanning electron microscopy (SEM) was used to characterize the surface morphology of thin films and it was observed that they were coated homogeneously. In the XRD measurements of annealed films, it was determined that the anatase-brookite mixed phase was observed in TiO2 films, while TiO2/CoPc films were anatase. Important parameters such as dislocation density, the crystal size of the films were calculated. © 2021, TUBITAK. All rights reserved.
  • Küçük Resim
    Öğe
    Sol-Jel Yöntemiyle Hazırlanan Kobalt Ftalosiyanin Katkılı TiO2 Filmlerin Optik ve Yapısal Özelliklerinin İncelenmesi
    (2021) Sarıgül, Hasan; Özçeşmeci, Mukaddes; Sorar, İdris
    Bu çalışmada, sol-jel spin kaplama yöntemi kullanılarak mikroskop cam altlıklar üzerine TiO2, TiO2/CoPc ve CoPc filmleri hazırlanmış ve CoPc katkı konsantrasyonunun filmlerin optik ve yapısal özellikleri üzerine etkisi araştırılmıştır. İnce filmlerin optik geçirgenliğini ölçmek için 300-1100 nm dalgaboyu aralığında bir spektrofotometre kullanılmıştır. Uv-Vis çalışmaları, B ve Q bandı absorpsiyon bölgelerine karşılık gelen aralıklarda artan CoPc konsantrasyonu ile filmlerin geçirgenliğinin azaldığını göstermiştir. İnce filmlerin yüzey morfolojisini karakterize etmek için taramalı elektron mikroskobu (SEM) kullanılmış ve homojen olarak kaplandıkları görülmüştür. Tavlanmış filmlerin XRD ölçümlerinde, TiO2 filmlerde anataz-brookit karışık faz görülürken TiO2/CoPc filmlerin anataz olduğu tespit edilmiştir. Filmlerin dislokasyon yoğunluğu, kristal boyutu gibi önemli parametreleri hesaplanmıştır.