Farklı oranlarda Mn katkılı CuO ince filmlerin sılar yöntemiyle üretilmesi ve karakterizasyonu

Basit Öğe Kaydı
dc.contributor.advisorÇetinkara, Hacı Ali
dc.contributor.authorAnik, Ertan
dc.date.accessioned2024-05-28T11:13:14Z
dc.date.available2024-05-28T11:13:14Z
dc.date.issued2014en_US
dc.departmentEnstitüler, Fen Bilimleri Enstitüsü, Fizik Ana Bilim Dalıen_US
dc.description.abstractBu çalışmada katkısız ve farklı oranlarda Mn katkılı CuO filmleri SILAR metoduyla üretilmiştir. Mn katkı konsantrasyonunun ve tavlama işleminin morfolojik, yapısal, optiksel ve elektriksel özellikler üzerine etkileri taramalı elektron mikroskobu (SEM), enerji ayırımlı x-ışını spektroskopisi (EDX), x-ışını kırınımı (XRD), UV-vis spektrometresi ve sıcaklığa bağlı elektriksel direnç ölçümleri ile çalışılmıştır. SEM görüntülerinden Mn katkı konsantrasyonunun ve tavlama işleminin nano parçacıkların boyları ve kalınlıklarını etkilediği anlaşılmıştır. EDX analizleri büyüme çözeltisindeki Mn+2 iyon konsantrasyonuyla, filmlerdeki Mn katkı yüzdelerinin doğrusal olmayan bir şekilde bağlı olduklarını göstermektedir. XRD ölçümleri sentezlenen katkısız ve Mn katkılı CuO nano yapıların (1 ̅11) ve (111) tercihli yönelimlerde monoklinik yapıda iyi kristalize olduklarını göstermektedir. Optik geçirgenlik çalışmaları band aralığı enerjilerinin, artan Mn katkısı ile arttığını ve tavlama işlemi sonrası düştüğünü göstermektedir. Sıcaklığa bağlı elektriksel direnç ölçümlerinden kirlilik seviyelerinin iyonlaşma enerjileri ve termal enerji aralıkları hesaplanmıştır.en_US
dc.description.abstractIn this study, undoped and at different ratio Mn-doped CuO films were produced on glass substrates by SILAR method. The influence of Mn doping concentration and annealing process on the morphological, structural, optical and electrical properties were studied by scanning electron microscopy (SEM), energy dispersive x-ray spectroscopy (EDX), x-ray diffraction (XRD), UV-vis spectrophotometry and the temperature dependant dark electrical resistivity measurements. From the SEM images it was understood that the thickness and lengths of the nanoparticles were affected by Mn doping concentration and annealing process. The EDX analysis showed that Mn doping percentages of the films had a non-linear dependence with Mn+2 ion concentration in the growth solution. The XRD measurements showed that the synthesized undoped and Mn-doped CuO nanostructures have a high crystallinity with monoclinic crystal structure preferentially in (1 ̅11)and (111) directions. Optical transmission studies showed that the band gap energy increases with the increasing Mn concentrations and decreases after annealing process. From the temperature dependant electrical resistivity measurements the ionization energies of the impurity levels and thermal band gap energies of the films were calculated.en_US
dc.identifier.endpage104en_US
dc.identifier.startpage1en_US
dc.identifier.urihttps://tez.yok.gov.tr/UlusalTezMerkezi/TezGoster?key=sY7m19PfcL6F1NUw-cr80BZ4cLP3g1cE6fTAgd3cfaTExUqjjfkW-E3H_dsxcM43
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.12483/5151
dc.identifier.yoktezid382538en_US
dc.language.isoturen_US
dc.publisherHatay Mustafa Kemal Üniversitesien_US
dc.relation.publicationcategoryTezen_US
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessen_US
dc.subjectFizik ve Fizik Mühendisliğien_US
dc.subjectPhysics and Physics Engineeringen_US
dc.titleFarklı oranlarda Mn katkılı CuO ince filmlerin sılar yöntemiyle üretilmesi ve karakterizasyonuen_US
dc.title.alternativeProduction and characterization of CuO thin films with different mn cocentrations by the silar methoden_US
dc.typeMaster Thesisen_US

Dosyalar

Orijinal paket
Listeleniyor 1 - 1 / 1
Küçük Resim
İsim:
382538.pdf
Boyut:
7.69 MB
Biçim:
Adobe Portable Document Format
Açıklama:
Tam Metin / Full Text
İndir

Koleksiyon

FBE Tez Koleksiyonu