ZnO yarıiletken yapıların üretilmesi ve karakterizasyonu

Basit Öğe Kaydı
dc.contributor.advisorGüder, Hüsnü Salih
dc.contributor.authorKahraman, Süleyman
dc.date.accessioned2024-05-28T11:24:41Z
dc.date.available2024-05-28T11:24:41Z
dc.date.issued2010en_US
dc.departmentEnstitüler, Fen Bilimleri Enstitüsü, Fizik Ana Bilim Dalıen_US
dc.description.abstractBu çalışmada kimyasal banyo depolama (CBD) metodu ile standart mikroskop lamları üzerine ZnO nano yapılar elde edilmiş, film büyütme parametrelerinden molarite ve sıcaklık ile üretim sonrası tavlama işleminin üretilen filmlerin morfolojisi, kristalografik yapısı ve elektriksel özellikleri üzerine etkisi araştırılmıştır.Reaksiyon sıcaklığının etkisinin araştırılması amacıyla, 0.1 M Zn(NO3)2.6H2O bileşiği içeren 3 ayrı çözeltiden sırasıyla 75, 85 ve 95 oC reaksiyon sıcaklıklarında 3 ayrı film üretilmiştir. Çözeltideki çinko iyon kaynağı molaritesinin film oluşumu ve yapısı üzerine etkisini incelemek amacıyla sırasıyla 0.025, 0.05 ve 0.1 M'lık üç ayrı Zn(NO3)2.6H2O çözeltisinden 3 ayrı film hazırlanmıştır. Molarite ve reaksiyon sıcaklığının etkisinin incelenmesi aşamalarında üretilen numunelerin morfolojik ve elektriksel özellikleri üzerine tavlamanın etkisini incelemek amacıyla numuneler 350 oC sıcaklıkta 2 saat süreyle ısıl işleme tabi tutulmuşlardır.Elde edilen filmlerin çeşitli parametrelerin değişimine bağlı olarak morfolojik, kristalografik ve elektriksel özelliklerinin incelenmesi amacıyla SEM görüntüleri alınmış, XRD desenleri çıkarılmış ve sıcaklığa bağlı özdirenç ölçümleri yapılmıştır.SEM görüntülerinden, elde edilen filmlerin altlık üzerine hemen hemen dik, c eksen yönelimli nanoçubuklardan meydana geldiği ve tavlama sonrası boyutlarında küçülme meydana geldiği tespit edilmiştir.X-ışını difraksiyon analizleri sonucunda elde edilen tüm filmlerin hegzagonal wurtzite yapıda ve (002) tercihli yönelime sahip olduğu görülmüştür.Sıcaklığa bağlı özdirenç ölçümlerinden üretilen yapıların özdirenç değerlerinin 102-103 ?cm aralığında değiştiği ve sıcaklığın artmasıyla bu özdirenç değerlerinin azaldığı tespit edilmiştir.en_US
dc.description.abstractIn this study, nanostructured ZnO thin films were obtained on standard microscope glass slides by the chemical bath deposition (CBD) method. The effects of molarity, reaction temperature and annealing process on morphology, crystallographic structure and electrical properties of obtained films were investigated.To investigate the effects of reaction temperatures, three different films were obtained at 75, 85 and 95 oC reaction temperatures using 0.1 M Zn(NO3)2.6H2O as metal ion source. To see how the molarity of metal ion source affects the film formation mechanism, three different films were also obtained by using 0.025, 0.05 and 0.1 M Zn(NO3)2.6H2O solutions. To investigate the effects of annealing on morphology, crystallographic structure and electrical properties of obtained films, after deposition all films annealed at 623 K for 2 hours.The changes in morphological, structural and electrical properties were studied by means of X-Ray diffraction (XRD), Scanning Electron Microscopy (SEM) analyses and temperature depended resistivity measurements.Well-defined nanorods almost perpendicular to substrate surface, which were significantly compressed in size after an annealing process, have been detected through SEM micrographs.From the X-ray measurement results, it can be seen that all obtained films exhibit good crystallinity with the hegzagonal wurtzite crystalline structure and the preferential orientation along (002) plane.From the temperature depended electrical resistivity measurements, all obtained films have semiconducting nature with room temperature resistivity on interval of 102-103 ?cm.en_US
dc.identifier.endpage104en_US
dc.identifier.startpage1en_US
dc.identifier.urihttps://tez.yok.gov.tr/UlusalTezMerkezi/TezGoster?key=veR1mHu9yoWjwcVUjCEoPDgZ80coQZDZ79Lt9FllTpR9W8Vs6SUOixPcyn5KMRob
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.12483/7011
dc.identifier.yoktezid275337en_US
dc.language.isoturen_US
dc.publisherHatay Mustafa Kemal Üniversitesien_US
dc.relation.publicationcategoryTezen_US
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessen_US
dc.subjectFizik ve Fizik Mühendisliğien_US
dc.subjectPhysics and Physics Engineeringen_US
dc.titleZnO yarıiletken yapıların üretilmesi ve karakterizasyonuen_US
dc.title.alternativeFabrication and characterization of ZnO semiconductor structuresen_US
dc.typeMaster Thesisen_US

Dosyalar

Orijinal paket
Listeleniyor 1 - 1 / 1
Küçük Resim
İsim:
275337.pdf
Boyut:
12.65 MB
Biçim:
Adobe Portable Document Format
Açıklama:
Tam Metin / Full Text
İndir

Koleksiyon

FBE Tez Koleksiyonu