Çinko oksit ince filmlerin kemometrik yaklaşımla üretimi ve karakterizasyonu

dc.contributor.advisorYücel, Yasi̇n
dc.contributor.authorOtuzbi̇r, Ömer
dc.date.accessioned2024-05-27T17:24:49Z
dc.date.available2024-05-27T17:24:49Z
dc.date.issued2022en_US
dc.departmentEnstitüler, Fen Bilimleri Enstitüsü, Kimya Ana Bilim Dalıen_US
dc.description.abstractMalzeme biliminde öne çıkan konulardan biri saydam iletken oksit filmlerin uygulamaları ve temel özellikleridir. Bu tür malzemelerin karakteristik özelliği, düşük elektriksel direnç ve görünür bölgede yüksek geçirgenliğe sahip olmalarıdır. Optik ve elektriksel özelliklerinden dolayı çinko oksit (ZnO) saydam yarıiletken filmler son yıllarda oldukça dikkat çekmektedir. ZnO elektromanyetik spektrumun geniş bir aralığında yüksek geçirgenliğe sahip bir malzemedir. ZnO ince filmler fiziksel veya kimyasal kaplama teknikleriyle üretilebilmektedir. Yarıiletken malzemelerin yüksek kaliteye sahip olmasında malzemenin üretiminde kullanılan metot önemli yer tutar. ZnO saydam iletken oksitlerin optik, yapısal ve elektriksel özellikleri uygun üretim parametreleri kullanılarak iyileştirilebilir. Bu nedenle çalışmamızda çinko oksit yarıiletken ince filmlerin kemometrik yaklaşımla üretimi ve fiziksel özelliklerinin geliştirilmesi hedeflenmiştir. Bu çalışmada çinko oksit ince filmler kemometrik tekniklerle optimize edilen üretim koşullarında SILAR yöntemiyle üretilmiştir. ZnO ince filmlerin SILAR yöntemiyle üretiminde etkili faktörler incelenmiş ve merkezi kompozit dizayn (CCD) ile yanıt yüzey yöntemi (RSM) kullanılarak optimum üretim koşulları belirlenemiştir. Elde edilen çinko oksit saydam yarıiletken filmlerin kristal yapısı ve morfolojik özellikleri X ışını difraksiyonu (XRD) ve taramalı elektron mikroskobu (SEM) ile karakterize edilmiştir.en_US
dc.description.abstractOne of the prominent topics in material science is the applications and basic properties of transparent conductive oxide films. Such materials are characterized by low electrical resistance and high transmittance in the visible region. Due to its optical and electrical properties, zinc oxide (ZnO) transparent semiconductor films have attracted considerable attention in recent years. The ZnO is a high transmission material in a wide range of electromagnetic spectrum. ZnO thin films can be produced by physical or chemical coating techniques. The method used in the production of the material has an important place in the high quality of semiconductor materials. The optical, structural and electrical properties of ZnO transparent conductive oxides can be improved using appropriate production parameters. Therefore, in our study, it was aimed to produce zinc oxide semiconductor thin films with chemometric approach and to improve their physical properties. In this study, zinc oxide thin films were produced by SILAR method under production conditions optimized by chemometric techniques. The factors affecting the production of ZnO thin films by SILAR method were investigated and optimum production conditions were determined using the central composite design (CCD) and response surface method (RSM). The crystal structure and morphological properties of the obtained zinc oxide transparent semiconductor films were characterized by X-ray diffraction (XRD) and scanning electron microscopy (SEM).en_US
dc.identifier.endpage45en_US
dc.identifier.startpage1en_US
dc.identifier.urihttps://tez.yok.gov.tr/UlusalTezMerkezi/TezGoster?key=qVqOZFj2DwNmvdf1oGFYiJo0YdCZZfZ2h2QqARfO00iBRG83jdDHTq2ZwtpZUH0n
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.12483/3881
dc.identifier.yoktezid767146en_US
dc.language.isoturen_US
dc.publisherHatay Mustafa Kemal Üniversitesien_US
dc.relation.publicationcategoryTezen_US
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessen_US
dc.subjectKimyaen_US
dc.subjectChemistryen_US
dc.titleÇinko oksit ince filmlerin kemometrik yaklaşımla üretimi ve karakterizasyonuen_US
dc.title.alternativeProduction and characterization of zinc oxide thin films with a chemometric approachen_US
dc.typeMaster Thesisen_US

Dosyalar

Orijinal paket
Listeleniyor 1 - 1 / 1
Yükleniyor...
Küçük Resim
İsim:
767146.pdf
Boyut:
2.09 MB
Biçim:
Adobe Portable Document Format
Açıklama:
Tam Metin / Full Text